X射线荧光光谱法分析金属样品，分析面的光洁程度直接影响（）
X射线荧光光谱法中，处理粉末样品的方法主要有压片法和（）
在X射线荧光分析中内标法往往可以采用将样品制成溶液的形式或以熔剂熔融的方式进行。
X射线荧光中所谓的基体，是指整个分析试样的元素，但不包括（）。
X射线荧光分析理想试样应满足条件是什么？
X射线荧光光谱法中，分析微量Al的样品不能用（）磨料抛光。
目前我们化验室对粉末样品所采用X荧光仪分析有（）方法。
X射线荧光光谱分析法也会对分析试样造成破坏与损伤。
X射线荧光分析粉末试样时，采用玻璃熔片法可以消除（）带来的分析误差。
X荧光分析粉末压片法分析烧结矿样品，样品的（）会造成分析误差。
X射线荧光光谱分析的试样，可以是固态，也可以是水溶液。试样制备的情况对测定误差无影响。
粉末压片法X荧光仪分析高炉渣时，将试样颗粒在粉碎机内粉碎制成粒度约（）的粉末试样。
X射线荧光分析激发试样和产生背景的主要能源是（）。
X射线荧光光谱法分析线的强度与分析面的磨纹方向有关，因此，在测量时采取转动试样的方法，以减少误差。
X射线荧光分析用于激发试样和产生背景的主要能源是（）。
X射线荧光光谱标准加入法可通过（）求得试样的分析结果。
X射线荧光光谱分析是相对分析方法，需要通过测试（）来确定待测样品的含量。
在X射线荧光分析中，一个理想的待测固体试样应满足（）
在X射线荧光分析中，当样品研磨到极细时，则（）基本消失；将样品制成薄层并薄到临界厚度以下时，分析线所受的（）与样品的组成无关。
X射线荧光光谱分析康普顿散射线内标法是根据靶线的康普顿散射线的强度很敏感地受样品成分的影响而设计的分析方法。
X射线荧光分析时基体效应的基体，是指分析时试样中除（）元素本身外其它所有的元素。
X射线荧光光谱可对分析样品中的元素进行（）
X射线荧光光谱法分析金属样品，对分析面的要求是什么？
在X-射线荧光光谱的土壤分析中，采用粉末压片法进行土壤样品的制备，可保证粒度大小、组分均匀，并避免矿物效应等问题。（)
