X射线荧光光谱法分析金属样品，分析面的光洁程度直接影响（）
X射线荧光光谱分析标准化的方法有（）校正法。
X射线荧光的（）与元素的种类有关，据此可以进行定性分析，X射线荧光的（）与元素的含量有关，据此可以进行定量分析。
X射线荧光分析中特征X射线光谱是由一组表示发光元素的（）波长所组成，其中各条特征谱线的（）强度各不相同。
X射线荧光光谱法中，分析微量Al的样品不能用（）磨料抛光。
X射线荧光分析时基体效应的基体与光电直读光谱分析用的铁基样品、镍基样品、铬基样品的铁基、镍基、铬基含意是一样的。
X射线荧光光谱法中，当试样的有效照射面积缩小时，元素的X射线荧光强度（）。
X射线荧光光谱分析散射背景内标法是用由连续谱线的散射线构成的本底（背景）为内标的校正方法。
X射线荧光光谱分析法也会对分析试样造成破坏与损伤。
X射线荧光光谱分析中，X射线光强度和管电压V的平方、管电流I以及靶元素原子序数Z成正比。
X射线荧光光谱法为了获得准确的定量分析结果，应使用有证的标准样品，标准样品与分析试料的（）尽可能一致。
X射线荧光光谱分析康普顿散射线内标法不能校正基体的吸收效应，只能校正增强效应。
X射线荧光光谱内标法，即把一定量的内标元素加入到标准试料及分析试料中，以标准试料中分析元素与内标元素的X射线荧光强度比与分析元素含量绘制校准曲线。测定分析试料的分析元素与内标元素的X射线荧光强度比，从校准曲线求得分析元素含量。
X射线荧光光谱法是对元素的（）进行分析。
X射线荧光光谱法中，当试样的有效照射面积增大时，谱线的强度（）。
X射线荧光光谱分析中，各元素的同系谱线激发电位和同系特征光谱的波长，随原子序数的大小而变化，与管电压和管电流的大小也有关。
X射线荧光光谱标准加入法可通过（）求得试样的分析结果。
X射线荧光光谱法可以分析所有的元素。
X射线荧光光谱分析康普顿散射线内标法是根据靶线的康普顿散射线的强度很敏感地受样品成分的影响而设计的分析方法。
X射线荧光光谱法基本上是一种（）分析法。
X射线荧光光谱可对分析样品中的元素进行（）
X射线荧光光谱法分析金属样品，对分析面的要求是什么？
用于动力装置油料分析的光谱仪按其对光谱分析方法的应用可分为（）。 Ⅰ．X射线荧光光谱分析； Ⅱ．原子吸收光谱分析； Ⅲ．发射光谱分析。
在X-射线荧光光谱的土壤分析中，采用粉末压片法进行土壤样品的制备，可保证粒度大小、组分均匀，并避免矿物效应等问题。（)
