X射线荧光光谱法分析金属样品，分析面的光洁程度直接影响（）
X射线荧光光谱分析标准化的方法有（）校正法。
X射线荧光分析理想试样应满足条件是什么？
X射线荧光光谱法中，分析微量Al的样品不能用（）磨料抛光。
X射线荧光分析时基体效应的基体与光电直读光谱分析用的铁基样品、镍基样品、铬基样品的铁基、镍基、铬基含意是一样的。
X射线荧光分析粉末试样时，采用玻璃熔片法可以消除（）带来的分析误差。
X射线荧光光谱法为了获得准确的定量分析结果，应使用有证的标准样品，标准样品与分析试料的（）尽可能一致。
X射线荧光光谱分析的试样，可以是固态，也可以是水溶液。试样制备的情况对测定误差无影响。
在X射线荧光光谱分析法中，除存在谱线重迭干扰外还存在（）干扰。
X射线荧光光谱分析中，适当选择分析晶体是消除谱线重叠干扰方法之一。
X射线荧光分析激发试样和产生背景的主要能源是（）。
X射线荧光光谱内标法，即把一定量的内标元素加入到标准试料及分析试料中，以标准试料中分析元素与内标元素的X射线荧光强度比与分析元素含量绘制校准曲线。测定分析试料的分析元素与内标元素的X射线荧光强度比，从校准曲线求得分析元素含量。
X射线荧光光谱法分析线的强度与分析面的磨纹方向有关，因此，在测量时采取转动试样的方法，以减少误差。
X射线荧光光谱法是对元素的（）进行分析。
X射线荧光光谱标准加入法可通过（）求得试样的分析结果。
X射线荧光光谱分析是相对分析方法，需要通过测试（）来确定待测样品的含量。
X射线荧光光谱分析的基体效应的数学校正一般分为三类，即（）。
X射线荧光光谱法可以分析所有的元素。
X射线荧光光谱法基本上是一种（）分析法。
X射线荧光光谱可对分析样品中的元素进行（）
X射线荧光光谱法分析金属样品，对分析面的要求是什么？
用于动力装置油料分析的光谱仪按其对光谱分析方法的应用可分为（）。 Ⅰ．X射线荧光光谱分析； Ⅱ．原子吸收光谱分析； Ⅲ．发射光谱分析。
X射线荧光光谱仪中的第一准直器设置在试样与（）之间。
X射线荧光光谱分析法的基体效是指基体中其它元素对分析元素的影响，包括和
