X射线荧光分析中特征X射线光谱的产生过程可以分两步:第一步是利用入射量子的能量激发,第二步则是以特征X射线(荧光)的形式放出能量。
原子的K层电子被逐出后形成空穴,被L层电子跃迁到K层填充,辐射出的X射线叫()射线,由M层跃迁到K层辐射的X射线叫()射线。
(2007)波长为λ的X射线,投射到晶体常数为d的晶体上,取k=0,2,3,…,出现X射线衍射加强的衍射角θ(衍射的X射线与晶面的夹角)满足的公式为:()
当用X射线照射物质时,除了发生()等现象外,还能产生特征X射线荧光。
DL/T821一2002规定,对较大直径管道对接接头射线透照检验时,为提高横向裂纹检出率,应选用周向X射线机或γ射线源,采用中心全周透照法。若采用其他透照方法,则对被检区两端的最大穿透厚度与射线中心线穿透厚度比K值应满足:环缝K值不大于1.2,纵缝K值不大于1.03。()
X射线荧光分析中特征X射线光谱是由一组表示发光元素的()波长所组成,其中各条特征谱线的()强度各不相同。
已知x射线的最短波长为0.062A°,其管电压为()KⅤ。
波长为λ的X射线,投射到晶体常数为d的晶体上,取k=0,2,3,…,出现X射线衍射加强的衍射角θ(衍射的X射线与晶面的夹角)满足的公式为:()
每种元素的特征X射线,包含一系列波长确定的谱线,且其强度比也是确定的,当Kα线强度为5kcps时,Kβ线的强度约为()。
高速运行的电子将靶物质原子中某层轨道电子击脱,形成空穴。此时,外层(高能级)轨道电子向内层(低能级)空穴跃迁,释放能量,产生X线,称为特征辐射。特征X线的波长由跃迁电子能量差决定,与高速运行电子的能量无关。高速电子的能量可决定能够击脱某壳层的电子。管电压在70kVp以下时,电子产生的动能不能把钨靶原子的K壳层电子击脱,故不能产生K系特征X线。与X线产生无关的因素是()
钼靶X线管产生K系辐射,管电压必须升到()。
X射线荧光仪在以X射线管作为激发源时,原级X射线光谱中特征光谱是用于激发样品的主要光源。
X射线荧光光谱分析中,各元素的同系谱线激发电位和同系特征光谱的波长,随原子序数的大小而变化,与管电压和管电流的大小也有关。
对于γ、X射线,其剂量当量中的线质系数值为()。
由L层电子跃迁到K层空穴而辐射的X射线叫()射线。
高速运行的电子将靶物质原子中某层轨道电子击脱,形成空穴。此时,外层(高能级)轨道电子向内层(低能级)空穴跃迁,释放能量,产生X线,称为特征辐射。特征X线的波长由跃迁电子能量差决定,与高速运行电子的能量无关。高速电子的能量可决定能够击脱某壳层的电子。管电压在70kVp以下时,电子产生的动能不能把钨靶原子的K壳层电子击脱,故不能产生K系特征X线。有关特征X线的解释,错误的是()
在x射线衍射分析时,金属铜为靶材,产生Kα线和Kβ1线,为获得单色x射线,可通过_______后可将其中的________线过滤掉。
从X射线管射出的X射线谱通常包括连续X射线和特征X射线。()
在K′系中,一光束在与x′轴成θ0角的方向射出。求在K系中光束与x轴所成的角θ。K′系以速度v沿x轴相对于K系运动。
由发射x射线的材料特征决定波长的连续Ⅹ射线,称标识x射线,又称特征x射线此题为判断题(对,错)。
已知铕的K临界吸收限为0.0255nm,则X射线管应具有的短波截止波长为( )。
惯性系K'相对于惯性系K以速度V沿x方向运动,在K'系观测,一质点的速度矢量v'在x'y'面内与x'轴成θ'角'。试证明:对于K系,质点速度与x轴的夹角为<img src='https://img2.soutiyun.com/ask/2020-11-04/973353883993415.png' />
【单选题】M层电子回迁到K层后,多余的能量放出的特征X射线称()
3、M层电子回迁到K层后,多余的能量放出的特征X射线称()