进行片剂的片重差异检查时，应取样品（）片
凡规定检查含量均匀度的片剂，一般不再进行哪项检查（）
某半导体静态存储器芯片的地址线为A12～A0，数据线D3～D0，若组成容量为64KB存储器，需要该种存储芯片的片数为（）
某半导体静态存储器芯片的地址线为A12-AO，数据线为D3~DO，若组成容量为64KB存储器，需要该种存储芯片的片数为（）
片重差异检查时，所取的片数是（）
已检查含量均匀度的片剂，不必再检查（）.
中国药典规定，除另有规定外，含量均匀度检查（初试）应取片剂供试品多少片。（）
凡规定检查溶出度、释放度或融变时限的片剂，可不进行（）检查。按规定检查含量均匀度的片剂，不进行（）检查。
由4M×1位DRAM存储芯片构成8M×8位高集成度的内存条，所需该存储芯片的片数为（）
含量均匀度测定时，一般初试应取供试品的片数为（）。
凡规定检查含量均匀度的片剂，可不进行重量差异检查。
中国药典规定，除另有规定外，溶出度测定法（初试）应取片剂供试品多少片。（）
凡规定检查含量均匀度的片剂，不再进行重量差异的检查。
下列片剂应进行含量均匀度检查（）
凡已规定检查含量均匀度的片剂，不应进行（）
在片剂的质量评价中，规定片剂每片标示量小于（）者，应检查含量均匀度。
中国药典规定，除另有规定外，溶出度测定法（初试）应取片剂供试品10片。
当8051外扩程序存储器16KB时，需要用EPROM2716的片数为（）
. 凡规定检查含量均匀度的片剂，可不进行 ( ) 的检查。
某半导体静态存储器芯片的地址线为A12～AO，数据线为D7~DO，若组成容量为32KB存储器，需要该种存储芯片的片数为()。
某半导体静态存储器芯片的地址线为A13～AO，数据线为D7～DO，若组成容量为32KB存储器，需要该种存储芯片的片数为()。
对于500kV线路，一般悬挂瓷绝缘子的片数为（）
检查过含量均匀度的片剂不需要再做重量差异检查。（)
