X线头影测量的主要应用有()

A . ['可研究颅面生长发育B . 可对牙https://assets.asklib.com/psource/2015091815144567618.jpg 、颅面畸形作诊断分析C . 可确定错https://assets.asklib.com/psource/2015091815144567618.jpg 畸形的矫治设计D . 可用于研究矫治过程中及矫治后的牙颌、颅面形态结构变化E . 可作为外科正畸诊断和矫治设计依据

时间:2022-10-25 18:18:26 所属题库:口腔正畸题库

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