当测到DW8—35断路器合闸对地的介损tgδ若超过规程规定,则可认为该相两支电容套管的tgδ值也超过规程值。
若试品的电容量为10000pF,加10kV电压测量介损,试验变压器的容量选择应不小于()。
在现场测量小电容量试品的介损tgδ值时,使测量结果引入诸多误差的外界因素主要指哪些?
在现场测量小电容量试品的介质tanδ值时,受外界影响的因素很多,往往引入很多误差,这类试品主要是指()。
若试品的电容量为10000pF,测量介损tgδ时加压10kV,试验变压器容量选择应不小于()kVA。
分别测得几个试品的介损值为tgδ1、tgδ2„„tgδn,则并联在一起测得的介损值为这些值中的()。
试品电容量约为15000pf,当用10kvqs1型西林电桥测量其tgδ及C时,电桥分流器档位宜设置在()档
采用末端屏蔽法测量串级式电压互感器的介损tgδ时,其值主要反映()
如试品表面有脏物或潮湿时,所测量的绝缘电阻不是试品的真实值。
测量35kV及以上全绝缘的电压互感器的介损tgδ,其绕组一次首尾端短接后加压,其余绕组首尾端短路接地,此方法一般称为()。
分析小电容量试品的介质损耗因素tgδ测量结果时,应特别注意哪些外界因素的影响?
当被试品电容量很小,测量其介损tgδ时,介损仪的高压引线与被试品的杂散电容对测量的影响不可忽视。
用倒相法消除外电场对tgδ测量的干扰,需要先在试验电源正、反相两种极性下,测量两组数据:C1tgδ1、C2tgδ2,然后按公式()计算出试品的实际的tgδ值。
用反接线测量电磁式电流互感器的介损,一次加压,二次开路,对其测量介损tgδ值影响不大。
在现场采用介损仪测量设备的介损tgδ时,若存在电场干扰,则在任意测试电源极性的情况下,所测得tgδ值一定比真实的tgδ增大。
用未端屏蔽法测量220kV串级式电压互感器的介损tgδ时,其电容量应是整体电容量的()。
使用常规法测量电压互感器的介损tgδ误差较大的原因主要是()。
用QS1型西林电桥测量小电容试品的tgδ时,如连接试品的Cx引线过长,则应从测得值中减去引线引入的误差值,此误差值为()。(其中C0为Cx引线增长部分的电容值;R3为测试时桥臂R3的读数;R4为桥臂R4的值)。
小电容(小于500PF)试品,主要有电容型套管、电容型电流互感器等,对这些试品采用介损仪正、反接线进行测量,测得的介损tgδ值是一样的。
采用QS1交流电桥在现场测量设备的tgδ时,若试品的电容量较小,测量中出现负值,一定是存在着电场干扰。
用末端屏蔽法测量220kV串级式电压互感器的tgδ,在试品底座法兰对地绝缘,电桥正接线、Cx引线接试品x、xD及底座条件下,其测得值主要反映()的绝缘状况。
在相同条件下,用QSl西林电桥测量小电容试品的tgδ和Cx时,用正接线方法和反接线方式测量的结果是完全相同的。()
对于电容量较大的试品(例如套管、互感器等),测量tan δ能有效地发现局部集中性缺陷和整体分布性缺陷。但对电容量较小的试品(例如大中型发电机、变压器、电力电缆、电力电容器等)测量tanδ只能发现整体分布性缺陷。
35kV变压器出厂验收时,绕组连同套管对地及其余绕组间的介损tgδ不大于()%