ICP-AES法存在的主要干扰有()、()、()、()和()。
ICP-AES等离子分析仪不用于()测定。
影响ICP-AES法分析特性的主要工作参数有3个,即()、()、()。
计算题: 用ICP-AES分析样品时,分析线Cr205.55nm受到Fe的干扰。当溶液中Fe的度为1000mg/L时,造成Cr浓度增加0.2mg/L,求Fe对Cr的干扰系数。
ICP-AES法测定时,连续背景和谱线重叠干扰属于()。
ICP-AES法测定多元素时,在标准和分析试样中加入过量的易电离元素,可抑制或消除()。
ICP-AES法分析中,如存在连续背景干扰,必须要扣除光谱背景,否则标准曲线不通过原点。
影响ICP-AES法分析特性的主要工作参数有3个,即()、()和()。
ICP-AES分析中,产生连续背景的因素有()、()、()和()4种。
用ICP-AES法测定水中金属元素,为尽量降低空白背景、测定所使用的所有容器清洗干净后,需用10%的()荡洗、()冲洗、()反复冲洗。
光度法和ICP-AES分析钢中硅,分解试样时应注意采用稀酸并低温加热。
火花直读原子发射光谱分析方法与ICP-AES分析方法相比较,其特点是()
ICP-AES法中常用的介质有稀盐酸和()。
用ICP-AES法测定时,背景扣除法是凭经验确定扣除背景的位置及方式。
用ICP-AES法测定水中金属元素,为尽量降低空白背景,测定所使用的所有容器清洗干净后,需用10%的()荡洗、()冲洗、()反复冲洗。
用ICP-AES法测定水中金属元素时,分析过程中沾污造成的空白值,可作为干扰进行校正。
用ICP-AES法测定水中金属元素时,干扰系数是指干扰元素所造成分析元素浓度升高与干扰元素浓度的比值。
电感耦合等离子体原子发射光谱法(简称ICP-AES),是以电感耦合等离子炬为激发光源的一类光谱分析方法。
用ICP-AES法测定水中金属元素时,分析过程中沾污造成的空白值,可作为干扰进行校正。
ICP-AES法测定多元素时,在标准和分析试样中加入过量的易电离元素,可抑制或消除。
计算题: 用ICP-AES分析样品时,分析线Cr205.55nm受到Fe的干扰。当溶液中Fe的浓度为1000mg/L时,C.r浓度增加0.2mg/L,求Fe对C.r的干扰系数。
ICP-AES分析过程的第一步是()