表面波探头用于探测工件()缺陷。
直探头只能发射和接受纵波,波束轴线垂直于探测面,主要用于探测与探测面平行的缺陷。
双晶探头用于探测工件()缺陷。
双晶片联合探头,由于盲区较小,因此有利于近表面缺陷的探测。
在超声波探伤中,斜探头主要用于探测什么缺陷?
双晶直探头倾角越大,交点离探测面距离愈远,覆盖区愈大。
在探测厚度较大的工件时,选用较小K值的探头是为了减少声程过大而引起的衰减,便于发现远场区的缺陷。
斜探头主要用于探测与探测面()或成一定角度的缺陷。
表面波探头用于探测工件()。
斜探头主要用于探测哪些类型的缺陷?
表面波探头用于探测工件表面缺陷。
用双晶直探头对平面工件探伤时,最好的操作方法是()
用单探头法探测二个表面平整、但与入射声束取向不良的缺陷(二缺陷的取向相同且无工件界面的影响),它们的当量()。
检验近表面缺陷时,最好采用联合双晶探头是因为该探头晶片前面带有机玻璃延迟块,减小了纵波单晶探头存在的阻塞。
斜探头主要用于探测与探测面垂直或成一定角度的缺陷。
用直探头在工件端面探测离侧壁极近的小缺陷时,探头最不利的探测位置是()
在超声波探伤中,双晶探头用于探测工件中什么部位的缺陷?
直探头只能发射和接收纵波,波束轴线垂直于探测面,主要用于发现与探测面()的缺陷。
收/发联合双晶探头适合于检验近表面缺陷。
探头的种类有直探头、斜探头、表面波探头、双晶探头等。
利用双晶直探头确定缺陷的边界或指示长度时,探头移动方向应与探头的分割面相垂直。
()可用于探测某些非铁磁材料表面和近表面缺陷。
使用窄脉冲宽频带探头不可以提高近表面缺陷的探测能力()
双晶探头主要用于近表面缺陷和薄件的检测。()